SiO2/NiO復合納米顆粒的制備及表征
摘要:提出了共溶膠雙水解的方法來(lái)制備SiO2基復合納米材料,并用氧化鎳作為復合對象來(lái)制備SiO2/NiO復合納米顆粒。利用X射線(xiàn)衍射儀(XRD)、掃描電子顯微鏡(SEM)、能量色散譜(EDS)和透射電子顯微鏡(TEM)等方法對復合納米顆粒的形貌和結構進(jìn)行了表征。測試結果表明:該方法成功制備出了SiO2/NiO復合納米顆粒。該復合納米顆粒是由SiO2與NiO兩種物質(zhì)構成的,其中SiO2小球是非晶結構的,粒徑為200~300 nm;NiO納米顆粒是多晶結構的,直徑在20 nm左右。每個(gè)SiO2小球上復合的NiO納米顆粒數目并不均一,但是復合納米顆粒分散性比較好,幾乎沒(méi)有團聚現象產(chǎn)生。最后,對這種制備方法的合成機理進(jìn)行了初步的解釋。
注: 保護知識產(chǎn)權,如需閱讀全文請聯(lián)系微納電子技術(shù)雜志社