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			加急見(jiàn)刊
		
        
		

		
		
        
			
        
				
				
				
        
					
					
        
						
						
        雙A/D采樣的跨尺度光柵微納測量算法與實(shí)現
        
						
        徐從裕; 楊雅茹; 胡宗久; 徐俊; 高雨婷  合肥工業(yè)大學(xué)儀器科學(xué)與光電工程學(xué)院; 合肥230009
        

					
        
					
        摘要：光柵通過(guò)細分實(shí)現高分辨率測量,光柵細分數與A/D轉換位數有關(guān)。針對目前低價(jià)位A/D采樣芯片存在的A/D轉換位數高則采樣速度低或A/D轉換位數低則采樣速度高的特點(diǎn),提出了一種跨尺度的光柵微納測量方法,該方法通過(guò)高速A/D采樣實(shí)現光柵快速測量,通過(guò)高轉換位數A/D采樣實(shí)現慢速微納測量。為解決雙A/D采樣與細分的跟蹤問(wèn)題,設計了基于雙A/D采樣的二路細分算法,一路為判定算法,判定算法是以高速A/D采樣值作為細分采樣值,另外一路為測量算法,測量算法中的細分采樣值是動(dòng)態(tài)分配的,當判定算法的細分值和細分增量值滿(mǎn)足跟蹤條件時(shí),測量算法中的采樣值為慢速A/D采樣值,否則為高速A/D采樣值。實(shí)驗數據表明,采用上述測量方法,可以任意組合兩種不同轉換位數與采樣速度的A/D芯片,以滿(mǎn)足不同需求的跨尺度光柵測量要求。
        
					
        注: 保護知識產(chǎn)權,如需閱讀全文請聯(lián)系電子測量與儀器學(xué)報雜志社
        
				
        
				

			
        
		
        

		
		

	
        

	
	
	
	
	
	
	
	


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