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			加急見(jiàn)刊
		
        
		

		
		
        
			
        
				
				
				
        
					
					
        
						
						
        銅鎢觸頭電燒蝕機理探討
        
						
        周芳; 曹偉產(chǎn); 陳偉博; 周揚  西安西電開(kāi)關(guān)電氣有限公司; 西安710077
        

					
        
					
        摘要：通過(guò)掃描電鏡、三維顯微鏡等設備分析CuW觸頭開(kāi)斷后的燒蝕形貌,討論了CuW觸頭通電時(shí)燒蝕機理。分析結果表明,CuW觸頭在開(kāi)斷燒蝕時(shí),燒蝕位置優(yōu)先出現在Cu聚集區域。而裂紋的形成由觸頭表面的電弧高溫侵蝕引起,而微裂紋在反復電弧燒蝕作用下將成為觸頭失效的根源。
        
					
        注: 保護知識產(chǎn)權,如需閱讀全文請聯(lián)系電工材料雜志社
        
				
        
				

			
        
		
        

		
		

	
        

	
	
	
	
	
	
	
	


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