《JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING》 期刊名縮寫(xiě):J ELECTRON IMAGING 22年影響因子:0.829 issn:1017-9909 eIssn:1560-229X 類(lèi)別: 工程技術(shù)物理 學(xué)科與分區: 工程、電氣和電子(ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC) - SCIE(Q4)光學(xué)(OPTICS) - SCIE(Q4)影像科學(xué)與攝影技術(shù)(IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY) - SCIE(Q4) 出版國家或地區:UNITED STATES 出版周期:Quarterly 出版年份:1992 年文章數:224 是否OA開(kāi)放訪(fǎng)問(wèn):No Gold OA文章占比:4.33% 官方網(wǎng)站:spie.org/x868.xml 投稿地址:jei.peerx-press.org/cgi-bin/main.plex 編輯部地址:I S & T - SOC IMAGING SCIENCE TECHNOLOGY, 7003 KILWORTH LANE, SPRINGFIELD, USA, VA, 22151 錄用難度:容易