《METROLOGIA》 期刊名縮寫(xiě):METROLOGIA 22年影響因子:2.748 issn:0026-1394 eIssn:1681-7575 類(lèi)別: 化學(xué)工程技術(shù)物理 學(xué)科與分區: 儀器儀表(INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION) - SCIE(Q2)物理,應用(PHYSICS, APPLIED) - SCIE(Q3) 出版國家或地區:FRANCE 出版周期:Bimonthly 出版年份:1965 年文章數:100 是否OA開(kāi)放訪(fǎng)問(wèn):No Gold OA文章占比:21.81% 官方網(wǎng)站:iopscience.iop.org/0026-1394/ 投稿地址:mc04.manuscriptcentral.com/met-bipm 編輯部地址:IOP PUBLISHING LTD, DIRAC HOUSE, TEMPLE BACK, BRISTOL, ENGLAND, BS1 6BE 錄用難度:較易