《Journal of X-Ray Science and Technology》 期刊名縮寫(xiě):J X-RAY SCI TECHNOL 22年影響因子:2.442 issn:0895-3996 eIssn:1095-9114 類(lèi)別: 化學(xué)工程技術(shù)物理 學(xué)科與分區: 儀器儀表(INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION) - SCIE(Q3)光學(xué)(OPTICS) - SCIE(Q3)物理,應用(PHYSICS, APPLIED) - SCIE(Q3) 出版國家或地區:NETHERLANDS 出版周期:Quarterly 出版年份:1989 年文章數:74 是否OA開(kāi)放訪(fǎng)問(wèn):No Gold OA文章占比:4.90% 官方網(wǎng)站:iospress.metapress.com/content/300181/ 投稿地址:www.iospress.nl/loadtop/load.php?isbn=08953996 編輯部地址:IOS PRESS, NIEUWE HEMWEG 6B, AMSTERDAM, NETHERLANDS, 1013 BG 錄用難度:容易