《IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY》 期刊名縮寫(xiě):IEEE T RELIAB 22年影響因子:5.883 issn:0018-9529 eIssn:1558-1721 類(lèi)別: 醫學(xué)工程技術(shù) 學(xué)科與分區: 計算機科學(xué)、硬件和建筑(COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE) - SCIE(Q1)計算機科學(xué)、軟件工程(COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING) - SCIE(Q1)工程、電氣和電子(ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC) - SCIE(Q1) 出版國家或地區:UNITED STATES 出版周期:Quarterly 出版年份:0 年文章數:100 是否OA開(kāi)放訪(fǎng)問(wèn):No Gold OA文章占比:2.68% 官方網(wǎng)站:ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=24 投稿地址:mc.manuscriptcentral.com/tr-ieee 編輯部地址:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141 錄用難度:較易