《IEEE Design & Test》 期刊名縮寫(xiě):IEEE DES TEST 22年影響因子:2.223 issn:2168-2356 eIssn:2168-2364 類(lèi)別: 醫學(xué)工程技術(shù) 學(xué)科與分區: 工程、電氣和電子(ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC) - SCIE(Q3)計算機科學(xué)、硬件和建筑(COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE) - SCIE(Q3) 出版國家或地區:UNITED STATES 出版周期: 出版年份:0 年文章數:37 是否OA開(kāi)放訪(fǎng)問(wèn):No Gold OA文章占比:7.10% 官方網(wǎng)站:www.ieee.org/membership-catalog/productdetail/showProductDetailPage.html?product=PER311-EPC 投稿地址: 編輯部地址: