電離層E/F層閃爍對GPS TEC變化率的影響
摘要：電離層閃爍是一種能夠降低導航性能的自然現象,主要發(fā)生在極區和低緯度地區電離層的不同高度層中,包括E層和F層。為研究電離層E/F層閃爍對地面站估算的GPS總電子含量（TEC）變化率指數（ROTI）的不同影響,借助COSMIC觀(guān)測系統以及高速率GPS雙頻大地測量數據展開(kāi)詳細分析,同時(shí)也探討GISM模型對其的預測能力。結果表明：電離層E層發(fā)生強閃爍（S4〉 0.6）,GPS ROTI未發(fā)生較大變化（ROTI≈0.02 TECU/min）;而F層發(fā)生強閃爍時(shí),ROTI則出現明顯變化（ROTI≥2 TECU/min）;GISM模型能夠預測香港區域電離層夜間發(fā)生的強閃爍（預測值S4≥0.6）,但對于白天發(fā)生的閃爍模型預測S4結果均為0,此外,GISM模型預測結果中對電離層E/F層閃爍并無(wú)區分。
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